• Artykuły
  • Forum
  • Ciekawostki
  • Encyklopedia
  • Elektronowy mikroskop skaningowy



    Podstrony: [1] [2] [3] [4] 5 [6]
    Przeczytaj także...
    Ładunek elektryczny elementarny — podstawowa stała fizyczna, wartość ładunku elektrycznego niesionego przez proton lub (alternatywnie) wartość bezwzględna ładunku elektrycznego elektronu, która wynosi:Prawo Bragga (także Prawo Wulfa-Braggów, wzór Bragga, warunek Bragga) – zależność wiążąca geometrię kryształu z długością fali padającego promieniowania i kątem, pod którym obserwowane jest interferencyjne maksimum.
    Zobacz też[]
  • mikroskop elektronowy
  • transmisyjny mikroskop elektronowy
  • skaningowy transmisyjny mikroskop elektronowy
  • skaningowy mikroskop tunelowy
  • mikroskop konfokalny
  • mikroskop sił atomowych
  • mikroskop metalograficzny
  • inżynieria powierzchni
  • inżynieria biomateriałów
  • inżynieria biomedyczna
  • Uwagi

    1. Działo z emisją polową Schottky’ego.
    2. Działo z emisją polową na zimno.

    Przypisy[]

    1. mikroskop elektronowy skaningowy. Encyklopedia PWN. [dostęp 2012-08-17].
    2. Goldstein J, Newbury D, Joy D, Lyman C, Echlin P, Lifshin E, Sawyer L, Michael J.: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Berlin: Springer-Verlag, 2003, s. 1. ISBN 0-306-47292-9.
    3. Knoll M.. Aufladepotentiel und Sekundäremission elektronenbestrahlter Körper. . 16, s. 467–475, 1935. 
    4. Kędzierski Z., Stępiński J.: Elektronowy mikroskop skaningowy (SEM). UWN AGH, s. 1.
    5. Kelsall R. W., Hamley I. W., Geoghegan M.: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008, s. 72-74. ISBN 978-83-01-15537-7.
    6. Kelsall R. W., Hamley I. W., Geoghegan M.: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008, s. 71. ISBN 978-83-01-15537-7.
    7. Kelsall R. W., Hamley I. W., Geoghegan M.: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008, s. 59-60. ISBN 978-83-01-15537-7.
    8. Pfeiffer Vacuum GmbH: The Vacuum technology book. Asslar.
    9. Das M.: Backscattered Electron Detection (ang.). [dostęp 2012-08-06]. [zarchiwizowane z tego adresu (2013-01-24)].
    10. Kelsall R. W., Hamley I. W., Geoghegan M.: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008, s. 115. ISBN 978-83-01-15537-7.
    11. Kelsall R. W., Hamley I. W., Geoghegan M.: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008, s. 68. ISBN 978-83-01-15537-7.
    12. Kędzierski Z., Stępiński J.: Elektronowy mikroskop skaningowy (SEM). UWN AGH, s. 4.
    13. Kelsall R. W., Hamley I. W., Geoghegan M.: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008, s. 75-76. ISBN 978-83-01-15537-7.
    14. Wcisło M.: Mikroskop elektronowy. [dostęp 2012-08-08].
    15. Postek M. T.: The Scanning Electron Microscope in Handbook of Charged Particle Optics. Maryland: CRC Press, 1997. ISBN 0-8493-2513-7.
    16. Goldstein J, Newbury D, Joy D, Lyman C, Echlin P, Lifshin E, Sawyer L, Michael J.: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Berlin: Springer-Verlag, 2003, s. 35. ISBN 0-306-47292-9.
    17. Bozzola J. J., Russell L. D.: Electron Microscopy: Principles and Techniques for Biologists. Sudberry: Jones and Bartlett's Publishers, 1999, s. 157-158. ISBN 978-0-7637-0192-5.
    18. Everhart T. E., Thornley R. F. M.. Wide-band detector for micro-microampere low-energy electron currents. . 37 (7), s. 246–248, 1960. DOI: 10.1088/0950-7671/37/7/307. 
    19. Kelsall R. W., Hamley I. W., Geoghegan M.: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008, s. 77. ISBN 978-83-01-15537-7.
    20. Kelsall R. W., Hamley I. W., Geoghegan M.: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008, s. 114. ISBN 978-83-01-15537-7.
    21. Oxford Instruments: EDS Detectors (ang.). [dostęp 2012-08-06].
    22. Muszka K.: Wpływ rozdrobnienia struktury na mechanizmy umocnienia stali niskowęglowych odkształcanych plastycznie. Kraków: 2008, s. 69-70.
    23. Suzuki E.. High-resolution scanning electron microscopy of immunogold-labelled cells by the use of thin plasma coating of osmium. . 208 (3), s. 153–157, 2002. DOI: 10.1046/j.1365-2818.2002.01082.x. 
    24. Kelsall R. W., Hamley I. W., Geoghegan M.: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008, s. 78. ISBN 978-83-01-15537-7.
    25. Goldstein J, Newbury D, Joy D, Lyman C, Echlin P, Lifshin E, Sawyer L, Michael J.: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Berlin: Springer-Verlag, 2003. ISBN 0-306-47292-9.
    26. Karnovsky M. J.. A formaldehyde-glutaraldehyde fixative of high osmolality for use in electron microscopy. . 27 (137A), 1965. 
    27. Kiernan J. A.. Formaldehyde, formalin, paraformaldehyde and glutaraldehyde: What they are and what they do. . 2000 (1), s. 8–12, 2000. 
    28. Russell S. D., Daghlian C. P.. Scanning electron microscopic observations on deembedded biological tissue sections: Comparison of different fixatives and embedding materials. . 2 (5), s. 489–495, 1985. DOI: 10.1002/jemt.1060020511. 
    29. Kelsall R. W., Hamley I. W., Geoghegan M.: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008, s. 76. ISBN 978-83-01-15537-7.
    30. Goldstein J, Newbury D, Joy D, Lyman C, Echlin P, Lifshin E, Sawyer L, Michael J.: Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Berlin: Springer-Verlag, 2003, s. 75-87. ISBN 0-306-47292-9.
    31. Kędzierski Z., Stępiński J.: Elektronowy mikroskop skaningowy (SEM). UWN AGH, s. 17-20.
    32. Hafner B.: Energy Dispersive Spectroscopy on the SEM:A Primer (ang.). [dostęp 2012-08-08].
    33. Kelsall R. W., Hamley I. W., Geoghegan M.: Nanotechnologie. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2008, s. 297. ISBN 978-83-01-15537-7.
    34. Danilatos G.D.. Design and construction of an atmospheric or environmental SEM (part 1). . 4, s. 9–20, 1981. Witzstrock Publishing House. 
    35. Collins S. P., Pope R. K., Scheetz R. W., Ray R. I., Wagner P. A., Little B. J.. Advantages of environmental scanning electron microscopy in studies of microorganisms. . 25 (5-6), s. 398–405, 1993. DOI: 10.1002/jemt.1070250508. 
    36. Danilatos G.D.. Design and construction of an atmospheric or environmental SEM (part 3). . 7, s. 26–42, 1985. Witzstrock Publishing House. 
    37. Kopar T., Ducman V.. Low-vacuum SEM analyses of ceramic tiles with emphasis on glaze defects characterisation. . 58 (11-12), s. 1133–1137, 2007. DOI: 10.1016/j.matchar.2007.04.022. 
    38. Yamada M., Kuboki K.: Development of natural SEM and some applications (ang.).
    39. Chance D. L., Mawhinney T. P.. Employing "Wet SEM" Imaging to Study Co-Colonizing Mucosal Pathogens. . 12, s. 308–309, 2006. DOI: 10.1017/S1431927606063367. 
    40. Myers B. D., Pan Z., Dravid V. P.. Beam skirting effects on energy deposition profile in VP-SEM. Microscopy and Microanalysis. . 14, s. 1208–1209, 2008. DOI: 10.1017/S1431927608085589. 
    41. Giannuzzi L. A., Stevens F. A.: Introduction to Focused Ion Beams: Instrumentation, Theory, Techniques and Practice. Springer Press, 2004. ISBN 978-0-387-23116-7.
    42. Baghaei Rad L.. Computational Scanning Electron Microscopy. , 2007. 
    43. Baghaei Rad L.. Economic approximate models for backscattered electrons. , 2007. Sci. Technol.. 
    44. Pacyna J.: Metaloznawstwo. Wybrane zagadnienia. Kraków: UWND AGH, 2005, s. 102. ISBN 8389399936.
    45. Using SEM for Medical Applications (ang.). [dostęp 2012-08-06].
    46. Uses of a Scanning Electron Microscope (ang.). [dostęp 2012-08-06].
    Napięcie elektryczne – różnica potencjałów elektrycznych między dwoma punktami obwodu elektrycznego lub pola elektrycznego. Symbolem napięcia jest U. Napięcie elektryczne jest to stosunek pracy wykonanej podczas przenoszenia ładunku elektrycznego między punktami, dla których określa się napięcie, do wartości tego ładunku. Wyraża to wzórFosforescencja – jeden z rodzajów fotoluminescencji; zjawisko świecenia niektórych substancji światłem własnym, wywołane uprzednim naświetleniem (lub napromieniowaniem pokrewnego rodzaju) z zewnątrz. Czas trwania fosforescencji jest relatywnie długi – od stosunkowo dużych części sekundy do wielu godzin, a mierzalny może być nawet po wielu miesiącach.


    Podstrony: [1] [2] [3] [4] 5 [6]



    w oparciu o Wikipedię (licencja GFDL, CC-BY-SA 3.0, autorzy, historia, edycja)

    Warto wiedzieć że... beta

    Krystalit (zwany również ziarnem) – część ciała stałego o budowie krystalicznej będąca obszarem monokrystalicznego uporządkowania. Ma rozmiary od kilku nanometrów do milimetrów. Krystality oddzielone są od siebie cienkimi amorficznymi warstwami (granicami ziaren) tworząc większe struktury polikrystaliczne. W pewnych materiałach (np. krzem nanokrystaliczny) poszczególne bardzo małe ziarna krystaliczne osadzone są w matrycy amorficznej, nie posiadającej struktury krystalicznej. Krystality są zwykle zorientowane przypadkowo. W związku z tym ich własności fizyczne są izotropowe, co oznacza izotropowość np. pod względem mechanicznym, a substancjach przezroczystych – optycznym. Krystality mogą układać się w sposób uporządkowany tworząc okrągłe (lub sferyczne) sferolity, dendryty o budowie drzewiastej, igły i inne. Struktury takie tworzone są w warunkach przechłodzenia, gdy proces nukleacji wtórnej dominuje nad procesem nukleacji pierwotnej. Powstawanie takich konglomeratów krystalitów obserwuje się w bardzo różnych substancjach takich jak:
    Szczególna teoria względności (STW) – teoria fizyczna stworzona przez Alberta Einsteina w 1905 roku. Zmieniła ona sposób pojmowania czasu i przestrzeni opisane wcześniej w newtonowskiej mechanice klasycznej. Teoria pozwoliła usunąć trudności interpretacyjne i sprzeczności pojawiające się na styku mechaniki (zwanej obecnie klasyczną) i elektromagnetyzmu po ogłoszeniu przez Jamesa Clerka Maxwella teorii elektromagnetyzmu.
    Jednostka masy atomowej, dalton, zwyczajowo atomowa jednostka masy, potocznie unit; symbol u (od ang. unit, jednostka) lub Da – będąca jednostką masy stała fizyczna w przybliżeniu równa masie atomu wodoru, ale ze względów praktycznych zdefiniowana jako 1/12 masy atomu węgla C.
    Długość fali – najmniejsza odległość pomiędzy dwoma punktami o tej samej fazie drgań (czyli pomiędzy dwoma powtarzającymi się fragmentami fali – zob. rysunek). Dwa punkty fali są w tej samej fazie, jeżeli wychylenie w obu punktach jest takie samo i oba znajdują się na etapie wzrostu (lub zmniejszania się). Jeżeli w jednym punkcie wychylenie zwiększa się a w drugim maleje, to punkty te znajdują się w fazach przeciwnych.
    Zoologia (od gr. zoon = zwierzę, i logos = słowo, myśl, rozumowanie) – nauka o zwierzętach, czyli wszystkich żywych organizmach zdolnych do przemieszczania i odżywiania się (z wyjątkiem mikroorganizmów), a także ich zachowaniach i budowie.
    Przestrzeń trójwymiarowa - potoczna nazwa przestrzeni euklidesowej o trzech wymiarach, lub równoważnej jej przestrzeni kartezjańskiej. Przymiotnik "trójwymiarowa" oznacza, że każdemu punktowi tej przestrzeni odpowiada trójka uporządkowana liczb rzeczywistych, zwanych współrzędnymi. Każdej trójce liczb rzeczywistych także odpowiada punkt tej przestrzeni.
    Działo elektronowe – element urządzeń wytwarzający odpowiednio skierowany strumień elektronów o odpowiedniej energii. Działo elektronowe jest elementem kineskopów, mikroskopów elektronowych, źródłem elektronów w akceleratorach cząstek.

    Reklama

    Czas generowania strony: 0.083 sek.